国際会議

  1. Y. Higami, H. Takahashi, K. Kobayashi, and K. K. Saluja: “On Detecting Transition Faults in the Presence of Clock Delay Faults,” Proc. Asian Test Symposium (2011.11)
  2. Y. Higami, H. Furutani, T. Sakai, S. Kameyama, and H. Takahashi: “Test Pattern Selection for Defect-Aware Test,” Proc. Asian Test Symposium (2011.11)
  3. Dewiani, K. Hirata, Y. Higami, and S. Kobayashi: “Dynamic Routing and Wavelength Assignment Scheme using Signaling of Backward Reservation in Multifiber WDM Networks,” Proc. International Conference on ICT Convergence (2011.9)
  4. Wardi, K. Hirata, Y. Higami, and S. Kobayashi: “Residual energy-based OLSR in mobile ad hoc networks,” Proc. 2nd International Conference on Multimedia Technology (2011.7)
  5. Dewiani, K. Hirata, Y. Higami, and S. Kobayashi: “Wavelength selection based on wavelength availability in multifiber WDM networks,” Proc. 2nd International Conference on Multimedia Technology (2011.7)
  6. Y. Higami, H. Takahashi, K. Kobayashi, and K. K. Saluja: “Enhancement of Clock Delay Faults Testing,” Proc. European Test Symposium (2011.5)
  7. K. Manabe, H. Yotsuyanagi, T. Tsutsumi, K. Yamazaki, Y. Higami, H. Takahashi, Y. Takamatsu, and M. Hashizume: “Estimation of Faulty Effects Caused by a Clack at an Interconnect Line in 90nm ICs,” Proc. International Conference on Electronics Packaging (2011.4)

国内研究会・その他

  1. 亀山 修一, 馬場 雅之, 樋上 喜信, 高橋 寛: “バウンダリスキャンテストにおける新たな課題-相互接続テスト中に IC 内部で発生している問題の考察-”, 電子情報通信学会DC研究会 (2012.2)
  2. 高山 誠司, 樋上 喜信, 高橋 寛, 小林真也, 二宮宏: “遠隔地監視システムにおける自己診断法”, 平成23年度電気関係学会四国支部連合大会 (2011.9)
  3. 酒井 孝郎, 樋上 喜信, 高橋 寛: “活性化経路評価関数を利用したテストパターン選択の性能改善”, 平成23年度電気関係学会四国支部連合大会 (2011.9)
  4. 藤原 大也, 樋上 喜信, 高橋 寛: “欠陥検出テスト生成法の改善法”, 平成23年度電気関係学会四国支部連合大会 (2011.9)
  5. 澤田 晋佑, 樋上 喜信, 高橋 寛: “抵抗性オープン故障テスト生成法の性能評価”, 平成23年度電気関係学会四国支部連合大会 (2011.9)
  6. 河野 博志, 樋上 喜信, 高橋 寛: “ファンアウト数に着目した欠陥検出テスト生成”, 平成23年度電気関係学会四国支部連合大会 (2011.9)
  7. 中満 大介, 平田 孝司, 樋上 喜信, 小林 真也: “個人向け情報配信システムにおける興味の変化に対応した情報フィルタリング”, 平成23年度電気関係学会四国支部連合大会 (2001.9)
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